SEM (Scanning Electron Microscope-Taramalı Elektron Mikroskobu), katı numunelerin yüzeyini taramak için odaklanmış yüksek enerjili bir elektron ışını kullanan ve numunenin topografyası ve bileşimi hakkında bilgi sağlayan çeşitli sinyaller üreten bir elektron mikroskobu türüdür. SEM, biyolojik örneklerin incelenmesinden malzeme bilimine kadar geniş bir uygulama alanına sahiptir, detaylı yapısal ve kompozisyonel analizler sağlayarak araştırmacılara değerli bilgiler sunar.

Nesneleri büyütmek için görünür ışık kullanan optik mikroskopların aksine SEM, büyütme için bir elektron ışını ve bunların dalga benzeri özelliklerini kullanır. SEM, biyoloji, fizik, kimya ve malzeme bilimi gibi çeşitli alanlarda numunelerin yüksek çözünürlüklü görüntülerini elde etmek için yaygın olarak kullanılır. Malzemelerin dış morfolojisi, kimyasal bileşimi, kristal yapısı ve yönelimi hakkında ayrıntıları ortaya çıkarabilir. SEM, malzeme topografisi hakkında bilgi sağlayan ikincil elektronları ve atom numarası ve kontrasta dayalı atomik bileşimi ortaya çıkaran geri saçılan elektronları içerebilen elektron-örnek etkileşimlerinden üretilen sinyalleri toplayarak çalışır. Ayrıca, Enerji Dağılımlı X-ışını Spektroskopisi (EDS) dedektörleri ile donatılmış SEM'ler numunelerin kalitatif veya yarı kantitatif kimyasal analizlerini gerçekleştirebilir. SEM'ler ayrıca görüntüleme sırasında numuneyi eğerek veya döndürerek 3D görüntüler oluşturabilmektedir.

ONLİNE ANALİZ/HİZMET

KALİTE KOORDİNATÖRLÜĞÜ

ÖNERİ/ŞİKAYET/BİLGİ TALEBİ

FAALİYET RAPORU